STZ400H型半導體四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10^-4--10⁶Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的必需儀器。
儀器為臺式結構，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據測試需要安放在一般工作臺或者專用工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內設有彈簧壓力裝置，壓力連續可調，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的恒流源組成，測量結果由數字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。
儀器具有測量高、靈敏度高、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究部門、高等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

主要技術指標：

1測量范圍：10^-4---10⁶Ω -CM 分辨率 10^-6。

2數字電壓表量程和電流輸出檔位：

a、電壓表量程2 mV、20 mV、200 mV、2V

b、電流輸出檔位： 1uA,10uA,100uA,1mA,10mA,100mA,

3測試（顯示電壓）及穩定度：

a、使用電壓量程20mV—2V及使用10uA—100mA電流輸出檔時 ：

±(0.2%讀數+6字)  

b、使用電壓量程2mV檔及使用1uA電流輸出檔時：

±(0.5%讀數+8字)

c、顯示：4?位數字顯示0—19999及相應單位顯示,測試電壓的分辨力為

   0.1uV。

4  電源：220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

5外形尺寸：365mm*345mm*110mm