- 產品品牌：
- Horiba
- 產品型號：
- SZ100
- 類型：
- 納米粒度儀
Horiba納米粒度儀SZ100 Horiba動態(tài)光散射粒徑分布測試儀SZ100 Horiba SZ100可更高靈敏度、高地評價單一納米粒子（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定） 完全解析納米粒子的物質結構 主要特點： 1. 將解析納米尺寸重要的三要素（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）的測定囊括于一身。 2. 從PPM順序的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原狀態(tài)下取樣調查、測定。 3. 微小容量電泳電池：為獨自研發(fā)，可以測定取樣調查僅100μL的Zeta電位。 4. 適合膠質粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應用 5. 取樣調查后，只要按測定開始按鈕即可，操作簡單。 Horiba SZ100粒子直徑測定 超寬動態(tài)測定有效范圍：0.3nm~8000nm 通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關器，實現高性能化。 在單一納米粒子專用光學系統中，采用低角度90度光學系統。 廣泛測定樣品濃度范圍 通過采用雙重光學系統，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。 Horiba SZ100Zeta電位測定 通過安裝標準的Horiba自主研發(fā)的微型樣品池，可以測定僅100μL的樣本。 規(guī)格：
| 樣式 | SZ-100 |
| 構成 | 分析部主體、PC、打印機 |
| 粒子直徑計測定原理 | 光子相關法 |
| 粒子直徑測定范圍 | 0.3nm~8μ |
| 粒子直徑測定 | ISO13321基礎規(guī)格 NIST可追蹤單分散聚苯乙烯 每100nm相對±2%（但不包括標準粒子自身個體） |
| 分子量測定原理 | Debye Plot法 |
| 分子量測定范圍 | 1 x 103 ~ 2 x 107 Da |
| Zeta電位測定原理 | 電泳激光多普勒法 |
| Zeta電位測定范圍 | -200~+200mV |
| 樣品電池溫度調節(jié) | 1.0~90.0℃ |
| 使用溫度/濕度 | 15~35℃ 85%RH以下（不結冰） |
| 電源 | AC100V 50·60Hz 150VA |
| 外形尺寸 | 527（W）x 385（D）x 273（H）mm |
| 選項 | 21CFR part11軟件、浸漬型樣品池 |
