波長范圍 420nm ~ 640nm
厚度測量范圍 350 ~ 3
小光斑尺寸 1.35, 0.135
目標(biāo)面積 864X648 / 86.4X64.8
物鏡轉(zhuǎn)動架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)
測量層 1
固定樣臺面積 270mm(L) X 240mm(D)
Z軸再現(xiàn)性 ± 1
自動Z裝置 Z direction Head Movement
Travel range: 50mm
Max. velocity: 50mm/s
特征
Non-destructive OSP thickness measurement
No sample preparation for fast and easy operation
Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions
Auto-focusing function
3D contours results

• 主要特點

• ST4080-OSP（有機可焊性保護膜）專用于測量PCB/PW板的銅鉑表面的OSP厚度。作為使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測量儀，它可提供平均厚度和詳細(xì)的3D平面輪廓資料，使得實時檢測無需任何的樣品制備。
  由于ST4080-OSP具有測量很小面積與自動聚焦功能，適用于PCB基板表面的實模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測量技術(shù)，而它在半導(dǎo)體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實。
  
  為什么要選擇 ST4080-OSP?
  
  ST4080-OSP使用反射測量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實時測量。
  ST4080-OSP 無需樣品制備，可確保快速和簡便操作。
  ST4080-OSP測量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.
  ST4080-OSP 與紫外可見分光計，受迫離子束方法，時序電化學(xué)還原分析還有其他的測量方法相比較，它基于更可靠的測量技術(shù)。
  ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長光譜。
  ST4080-OSP可提供各點和它們的平均厚度的詳細(xì)數(shù)據(jù)，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
  ST4080-OSP 通過3D表面形態(tài)學(xué)將測量程序優(yōu)化。

• 儀器介紹

• 1996年以來，科美在半導(dǎo)體，平板顯示器，電子物質(zhì)，生命科學(xué)和化學(xué)分析上，研發(fā)和提供了獨特的，先進的解決方案。科美，作為測量和分析技術(shù)市場上的領(lǐng)頭和動力，以它突出的表現(xiàn)得到了世界范圍的認(rèn)可。