導波雷達物位計GRT55

一、導波雷達物位計概述：

        JK系列導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以運行，運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜繩傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收，并將距離信號轉(zhuǎn)化為物位信號。
        導波雷達物位計天線發(fā)射窄的微波脈沖，這個脈沖以在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度高，發(fā)射沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認?？梢詼蚀_識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。
       導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與到被測介質(zhì)的距離成正比。
 

二、導波雷達物位計技術(shù)參數(shù)
       應(yīng) 用：液體及固體測量，復雜過程條件 
       量程：纜：30m/棒：6m
       測量：±10mm
       過程連接：G1?A、G2A、1?NPT
       探測組件材料：不銹鋼316L
       過程溫度：-40~+150°C
       過程壓力：-1.0~40bar
      信號輸出：兩線制4~20Ma/HART