- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：北京
GDJD-600型高低溫介電性能測量系統(tǒng)
GDJD-600型高低溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）
關(guān)鍵詞：高低溫介電測量儀，高低溫介電測量系統(tǒng)，
產(chǎn)品介紹：
GWJD-600型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高低溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
一、產(chǎn)品優(yōu)勢:
1.實(shí)現(xiàn)室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉(zhuǎn)換測量
2.四通道測試,可以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品，方便快捷
3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)
二、《符合ASTMD150和 D2149-97國際標(biāo)準(zhǔn)>>
<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法;》
三、產(chǎn)品特點(diǎn)
1.可以在低高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能；
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能;
3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線，時(shí)間和電壓變化的曲線；
4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求。
主要技術(shù)指標(biāo)：
測量溫度： -160°C-800°C | 升溫斜率：2°C /min |
頻率范圍：20-30MHZ | ：0.05% |
測量： ±0.1°C | 控溫：±1°C（PID精準(zhǔn)控溫） |
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好 | 測試方法：兩線法或四線法 |
測試通道數(shù)：1-4通道 | 可測樣品數(shù)：1-4個(gè)樣品 |
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸 | 測量：0.05% |
AC電平： 0V 到 1V rms | 直流偏壓：0到±40V/100mA |
數(shù)據(jù)存儲：EXCEL表格等多種格式 | 加熱方式：電阻絲加熱 |
真空度范圍：100 Pa-1大氣壓 | 電極材料：鉑金 |
數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口 | 儀器通訊：USB或GPIB |
