詢價(jià)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺(tái)灣
Chroma 19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀主要特色：
五合一安規(guī)掃描分析儀
(交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、 直流電阻)耐壓測(cè)試(Hi-pot)
- 5kVac / 6kVdc
- HSCC 高速接觸檢查絕緣電阻測(cè)試(IR)
- 5kV繞線元件脈沖測(cè)試 (IWT)
-脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)直流電阻測(cè)試
- 10通道四線直流電阻測(cè)試
-Δ型/Y型馬達(dá)繞線電阻計(jì)算支援40通道掃描測(cè)試
繁中 / 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
USB波形儲(chǔ)存& 畫面擷取功能
圖形化彩色顯示
標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232介面
GFI人體保護(hù)電路
Chroma 19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀詳細(xì)介紹：
Chroma 19036結(jié)合脈沖測(cè)試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測(cè)于單機(jī)的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測(cè)。符合繞線元件測(cè)試需求且提供多通道掃描測(cè)試，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。
繞線元件的測(cè)試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕緣電阻測(cè)試、繞線元件脈沖測(cè)試(IWT)及直流電阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測(cè)試整合于19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試，讓繞線元件生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠的測(cè)試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。
線圈自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所引起，故在電氣安規(guī)測(cè)試制程中加入線圈層間短路測(cè)試，即可多組繞組掃描測(cè)試完成，進(jìn)一步的提升繞線元件品質(zhì)。
19036結(jié)合層間短路測(cè)試功能，具備6kV脈沖電壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)及波形二階微分偵測(cè)(Laplacian)等判定，提供線圈自體絕緣不良以及電感量確認(rèn)之有效的檢測(cè)方法。
19036設(shè)計(jì)四線直流電阻量測(cè)接口，包含Drive 與 Sense并符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的四線直流電阻量測(cè)與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭配16通道掃描盒最多可達(dá)到40通道掃描測(cè)試 。
19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常，解決繞線元件接觸不良而導(dǎo)致測(cè)試失敗的問題。
馬達(dá)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī)綜合測(cè)試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測(cè)AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)于漏電流較大或大型設(shè)備電氣安規(guī)測(cè)試的使用者，高功率的耐壓測(cè)試與其他安規(guī)測(cè)試整合于一臺(tái)綜合測(cè)試儀，將為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來(lái)效益，500VA的設(shè)計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。
Chroma 19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀量測(cè)技術(shù)
耐壓測(cè)試 ? FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡(luò)偵測(cè) ARC
19036 與Chroma 其他安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有 Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因 高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品 傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測(cè)試電 壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè) 為高壓測(cè)試不可或缺的檢視項(xiàng)目之一。
