詢價(jià)
- 類型：立式光學(xué)計(jì)
- 測(cè)量范圍：被測(cè)件0～180mm，小示值0.1μm
- 小顯示值：0.1μm
- 被測(cè)件*大長(zhǎng)度：200mm
- 測(cè)量力：(2±0.2)N
- 直接測(cè)量范圍： 10mm
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)
被測(cè)件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測(cè)量工件的尺寸。主要用于對(duì)五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測(cè)量，本儀器頭部亦可作為一個(gè)獨(dú)立體，在科研，過(guò)程控制及在線測(cè)量等方面，對(duì)被測(cè)件作微小位移測(cè)量，及對(duì)非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測(cè)量。
主要參數(shù)
被測(cè)件*大長(zhǎng)度： 200mm
直接測(cè)量范圍： 10mm
小顯示值： 0.1μm
測(cè)量力： (2±0.2)N
示值變動(dòng)性： 0.1μm
大不準(zhǔn)度： ±0.25μm
讀數(shù)方式： 數(shù)字顯示
大測(cè)量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測(cè)長(zhǎng)度,以mm計(jì)
儀器體積： 300×170×410mm
儀器重量：18 kgs
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)
被測(cè)件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測(cè)量工件的尺寸。主要用于對(duì)五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測(cè)量，本儀器頭部亦可作為一個(gè)獨(dú)立體，在科研，過(guò)程控制及在線測(cè)量等方面，對(duì)被測(cè)件作微小位移測(cè)量，及對(duì)非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測(cè)量。
主要參數(shù)
被測(cè)件*大長(zhǎng)度： 200mm
直接測(cè)量范圍： 10mm
小顯示值： 0.1μm
測(cè)量力： (2±0.2)N
示值變動(dòng)性： 0.1μm
大不準(zhǔn)度： ±0.25μm
讀數(shù)方式： 數(shù)字顯示
大測(cè)量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測(cè)長(zhǎng)度,以mm計(jì)
儀器體積： 300×170×410mm
儀器重量：18 kgs
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)
被測(cè)件0～180mm，小示值0.1μm
一、用途
數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測(cè)量工件的尺寸。主要用于對(duì)五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測(cè)量，本儀器頭部亦可作為一個(gè)獨(dú)立體，在科研，過(guò)程控制及在線測(cè)量等方面，對(duì)被測(cè)件作微小位移測(cè)量，及對(duì)非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測(cè)量。
主要參數(shù)
被測(cè)件*大長(zhǎng)度： 200mm
直接測(cè)量范圍： 10mm
小顯示值： 0.1μm
測(cè)量力： (2±0.2)N
示值變動(dòng)性： 0.1μm
大不準(zhǔn)度： ±0.25μm
讀數(shù)方式： 數(shù)字顯示
大測(cè)量： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測(cè)長(zhǎng)度,以mm計(jì)
儀器體積： 300×170×410mm
儀器重量：18 kgs
