詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
鍍層X射線測厚儀：革新監測技術，保障工業安全！鍍層X射線測厚儀是一種先進的工業監測儀器，廣泛應用于各個領域的金屬表面涂層厚度測量。它以其快速的測量結果，成為工業生產中不可或缺的重要工具。本文將全面介紹鍍層X射線測厚儀的原理、使用方法和應用領域，為您揭開這一科技背后的奧秘。鍍層X射線測厚儀的原理基于X射線的穿透性質，通過測量X射線在金屬表面涂層中的散射和吸收情況，進而計算出涂層的厚度。它采用非破壞性的測量方式，不需要取樣，既保證了數據的準確性，又節省了時間和成本。
技術指標
鍍層x射線測厚儀型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
鍍層樣品測試注意事項
先要確認基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度 。
通過對鍍層基材的測定，確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質，比如PCB印刷版基材中環氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的，并且同標準片底材元素含量不一致的，則需要進行基材修正，選用樣品所相似的底材進行曲線標定 。
首先需要將待測涂層表面清潔干凈，以確保測量結果的。然后將測量儀器對準待測區域，觸發掃描，儀器會自動發送X射線，并通過探測器接收反射的射線。根據接收到的射線強度和散射情況，儀器會自動計算出涂層的厚度，并顯示在屏幕上。鍍層X射線測厚儀在工業生產中有著廣泛的應用。首先，它可以用于測量汽車零部件和飛機結構中的涂層厚度，以確保其滿足設計要求，并提高產品的使用壽命和安全性。其次，它也可以應用于金屬制品的生產過程中，用來監測涂層的均勻性和厚度，保證產品的質量穩定。此外，還可以用于船舶、建筑、電子等行業，為工程檢測和質量控制提供了可靠的手段。在選擇鍍層需要考慮儀器的性能和功能。首先，測量范圍要滿足項目的需求，能夠涵蓋涂層厚度的各個范圍。
