詢價(jià)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇蘇州
- 測(cè)量元素范圍：11Na (鈉)~92U(鈾)
- X射線管：高功率W 靶、Ag 靶、Rh 靶射線管
- 多導(dǎo)毛細(xì)管光學(xué)器件：φ25μm
- X射線檢測(cè)：SDD 探測(cè)器
- 樣品觀察：高分辨率CCD 變焦攝像頭
X射線PCB電路板鍍層厚度測(cè)厚儀
X射線PCB電路板鍍層厚度測(cè)厚儀特別適用于晶圓微區(qū)、PCB 電路板、芯片針腳等 chao 微小測(cè)量點(diǎn)的鍍層分析。
X射線管激發(fā)出來的X射線在毛細(xì)玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進(jìn)行傳輸，利用毛細(xì)玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向， 從而實(shí)現(xiàn)X射線匯聚。
多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦光學(xué)系統(tǒng)
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
采用 chao 短光路系統(tǒng)， ji 好的減少了信號(hào)的損失；可電動(dòng)切換的初級(jí)濾光片，大幅降低背景噪聲； 高 jing 度XY移動(dòng)平臺(tái)，微米級(jí)移動(dòng) jing 度；搖桿按鍵操作配置、開蓋 zi 動(dòng)彈出樣品平臺(tái)，樣品放置后操作相應(yīng)按鍵即可快速 wan 成測(cè)試分析；
Quan 景+微區(qū)雙相機(jī)，不僅能展現(xiàn)測(cè)試點(diǎn)位細(xì)節(jié)，也能呈現(xiàn)高清廣角視野。
高分辨率的Fast-SDD 探測(cè)器
分辨率：145±5eV,能量響應(yīng)范圍：1keV~40keV
分析 chao 薄樣品：厚度薄為nm 級(jí)的Au 鍍層
儀器性能特點(diǎn)
1、Zhuan 業(yè)化程度高
多通道數(shù)字譜圖界面，清晰化呈現(xiàn)被檢樣品的元素譜圖
軟件具有定性分析、zi 動(dòng)元素識(shí)別功能，方便對(duì)樣品元素的識(shí)別和定性 具有疊加虛譜功能，方便作不同批次樣品的定性對(duì)比分析
軟件具有底材校正、能量校正、強(qiáng)度校正、密度校正等多種校正功能
除了檢測(cè)鍍層厚度以外，還可以檢測(cè)面密度，以及合金鍍層比例和合金成分
2、智能化程度高
開蓋自動(dòng)彈出樣品平臺(tái)
支持多點(diǎn)測(cè)試，網(wǎng)格測(cè)試
3、操作簡(jiǎn)單
通過雙攝像和雙激光點(diǎn)，可快速定位需要測(cè)量的區(qū)域 搖桿與快捷鍵按鈕，快速檢測(cè)，提升工作效率
4、準(zhǔn)確檢測(cè)
毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)搭配 jing 準(zhǔn)ding位平臺(tái)，聚焦直徑小至10um
高分辨率Fast-SDD 探測(cè)器可對(duì) chao薄樣品準(zhǔn)確分析
維護(hù)簡(jiǎn)單，方便友好
測(cè)試示例
