詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇昆山
- 鍍層可測范圍：3 鋰 Li~92 鈾 U
- 元素檢測范圍：13鋁AI~92 鈾 U
- 檢出限：金屬鍍層分析最薄可達0.005um
- 最小測試面積：0.02mm2
- 樣品移動平臺：全自動高精度多點測試XY移動平臺
可編程X/Y平臺X射線膜厚儀
可編程X/Y平臺X射線膜厚儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦準確分析，對半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試比較友好。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和 bao 護系統。
采用大窗口探測器，能 jing 準地解析每個元素的特征信號，針對復雜底材以及多層復雜鍍層，同樣可以輕松測試。
搭配 da 功率X光管，能較好的保障信號輸出和激發的 wen ding 性，減少儀器故障率。
高 jing 度 zi 動化的X、Y、Z軸的三維聯動，geng jing 準快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點的 ding 位。
可編程X/Y平臺X射線膜厚儀技術參數
尺寸規格
設計形式：臺式儀器，測量蓋向上開啟
測量方向： 從上至下
儀器重量： 60kg
外型尺寸：(mm) 485(W)×588(D)×505(H)
樣品室尺寸：(mm) 430(W)×400(D)×140(H)
X射線源
X射線管： 微焦斑W靶射線管
X射線管高壓、電流： jin 口大功率高壓單元
準直器(孔徑) ：可選配0.1*0.3mm,φ0.2mm,φ0.3mm,φ0.5mm,φ0.1mm 還可按要求 定制其它孔徑
X射線檢測
探測器： 大窗口探測器
分析方法： FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法
元素檢測 fan圍： 13Al(鋁)~92U(鈾),可同時分析24個元素，五層以上鍍層
檢出限 ：金屬鍍層分析薄度可0.0025μm
厚度fan圍 ：分析鍍層厚度一般在0~120μm以內(每種材料有所不同)
厚度標準偏差： RSD<3%
含量測試 fan 圍： 0.1%~99.9%
檢測時間： 5-40秒
樣品觀測配置
樣品照明 ：LED燈，上方垂直環繞照射(可調節亮度)
樣品觀察對焦： 高分辨率彩色CCD變焦工業攝像頭，沿初級X射線光束方向觀察測量位置，帶有經過校正的刻度和測量點指示的十字線，手動/自動對焦
倍率： 外激光點用于輔助 jing 準放置樣品，高度激光調節配合變焦攝像頭對焦，圖像可放大倍數20x-160x,實現微小樣品清晰 ding 位
電動X/Y/Z高 jing 度移動平臺
設計： 可編程電動X/Y/Z平臺
樣品移動平臺： 全自動高jing度多點測試XY移動平臺
Z軸升降平臺升降fan圍 ：0~140mm
安 quan 防護
操作環境溫濕度： 15℃~30℃,濕度≤70%
工作電源： 交流220V±5V,建議配置交流凈化wen壓電源
安 quan 性： 雙重安 quan 防護設施：防撞激光檢測器與樣品室門開閉傳感器；待機無輻射，工作時輻射水平遠 di于 guo 際安 quan標準，配軟件連動裝置
可編程X/Y平臺X射線膜厚儀應用方向
通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光 ding 位和 bao hu 系統，man zu 半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試xu求。
可編程X/Y平臺X射線膜厚儀售后服務
?儀器的品質bao zhneg
天瑞儀器公司 bao zheng 所供貨品為天瑞儀器公司生產的新品,品質優良，符合我方相關樣本說明書的技術指標參數。
1、一對一的用戶培訓
2、定期召開的行業大會
?儀器的安裝調試
天瑞儀器公司將在到貨后雙方約定的時間內盡快響應， bao zheng 質量的完成儀器的免費安裝、調試和培訓指導。
?儀器的保修期
儀器的免費保修期為安裝調試驗收合格后，雙方簽訂驗收調試報告開始計一年。保修期內，對于非人為造成的儀器故障實行免費維修。
?儀器的維修響應
收到貴方的維修申請后，天瑞儀器公司將以 zui 快的響應速度（一般不超過三個工作日）到達貴公司對儀器進行維修。
?技術培訓與支持
安裝時現場提供分析儀器的硬件、軟件操作培訓，使操作人員能夠掌握相關儀器的使用和日常維護。
