產品品牌：

西凡科技

產品型號：

EXF-6308

便攜式光譜測金儀EXF6308  廠家負責人：尤先生 聯系電話：       操作規格 儀器操作簡便、快捷、直觀！ 硬件獨特性:
      符合嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式（采用滑蓋設計）。探頭指標高，性能好，壽命長；全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高；配備高清晰的攝像定位系統，測量更直觀、方便、快捷；配置固定樣品用多軸向夾具。
激發源：Mo靶的X光管 風冷 (無輻射） 測量點尺寸：1～2mm 樣品室:  單獨的樣品室
軟件：   菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算
計算機： 選擇配置
探測器：  固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的探測器和讀出電路
其它規格：
        電壓:交流220V/50Hz
      處尺寸: 500*400*200mm /重量: 17公斤
技術指標
      分析范圍：10%～99.99%     測量時間：自適應
     測量： ± 0.2%
     測試環境：常溫常態
     分析元素：Au 、Ag 、pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd
     X射線源：X射線光管
     高壓器：4-50Kv
     分析：多通道模擬
     操作系統:Windows2000/Me/XP

      鍍層測量：
      鍍層厚度范圍<30µm
     可測量元素種類：Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
     測量層數：5層
     測量：0.03µm
標準配置:
     單樣品腔      放大電路       高低壓電源       X光管         計數器