具采用的密封充氣紫外光學系統和OPI水平觀測等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術,有高靈敏度、高以及波長范圍寬(130nm-770nm)等特性,在ICP-OES 領域開拓了全新的應用,可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。
技術參數:
1、樣品激發系統
高頻固態發生器
頻率:27.12MHz
功率:700到1700W
功率穩定性:<0.1%
空氣冷卻(無需額外冷卻設備)
全部激發條件由計算機控制,具有待機模式功能(低功率,低氬氣消耗)
2、進樣系統、氣體控制系統及炬管單元
快速換裝設計
所有氣體流量均由質量流量控制器控制,全部在軟件上進行操作
等離子氣: 0–20L/min 增量 0.1L/min
輔助氣: 0–3L/min 增量0.01L/min
霧化氣: 0–1.5L/min 增量0.01L/min
附加氣氣流: 0–1.0L/min 增量0.01L/min
炬管位置由計算機全自動控制,自動進行觀測高度及炬管位置優化
水平方向調節:-5mm to +5mm增量0.1mm
垂直方向調節:-5mm to +5mm增量0.1mm
3、等離子體接口
兩種觀測方式,水平和垂直觀測
水平觀測:斯派克OPI接口,利用反吹氬氣有效剝離等離體尾焰,消除分子復合光譜干擾,降低基體效應,擴展動態線性范圍,延長炬管使用壽命。
垂直觀測等離子體SPI接口,用于高濃度和主成分檢測、高固含量和有機物分析,可以提高線性范圍、準確度和。允許的固體含量30%
4、分光系統
帕邢-龍格Paschen-Runge分光系統
工作溫度:+15C0.5C
波長范圍:130-770nm
全息凹面原光柵,刻線密度3600刻線/mm兩座 , 刻線密度1800刻線/mm一座
光學部件少,光路無可移動部件,光能量損失少
譜線覆蓋全譜段,譜線能量高
紫外光區和可見光區元素譜線同時曝光,同時讀取
5、紫外系統(分析190nm以下元素譜線時使用)
的UVPLus 紫外密閉充氬循環系統
遠紫外區(130nm-165nm)元素波長譜線分析能力
光室充滿氬氣并完全密封并帶有不需消耗吹掃氣體
氬氣自動循環凈化系統
6、檢測器
32個線性CCD連續排列
每個CCD的橫向象素為3648個
并聯讀出設計,每個CCD具有獨立的信號處理系統
工作溫度:+15。C 0.5。C(無需低溫冷卻,關機無需等待檢測器回復室溫即可關氣,與光室溫度相同,不存在溫差問題)
樣品分析時間不隨元素數量增加而增加
線性動態范圍108
自動暗電流校正
7、分析軟件系統
Windows XP操作系統,Windows MS-Office™用戶介面
ICAL(智能邏輯校正)——自動波長和強度標準化,通過一個ICAL樣品可以對單個象素、波長范圍全譜強度進行標準化
可以同時顯示分析結果、譜圖和標準曲線、儀器條件及自動進樣器工作狀態
“方法向導”引導方法建立
定性、定量和快速半定量分析
全譜范圍內每條元素譜線檢測全部檢出并存儲
事后解析功能,對已測定的樣品增加新的元素或譜線,能對以前分析樣品進行結果回溯,所有分析譜線可以在分析過程完成以后重新修正
記錄或者查看已存貯的譜圖
完整的分析譜線庫(NIST),推薦譜線庫,自動譜線識別
主要特點:
帕邢-格光學系統設計,提供的分辨率
波長范圍:130-770nm
真正的全譜直讀
光譜覆蓋全譜段
獨有的遠紫外區(130-165nm)分析能力,痕量Cl、Br、I測定
充氬循環自凈化光室
32個線性并聯CCD檢測器,檢測器無需低溫冷卻
事后解析功能
維護簡單
氣體消耗量低

