儀器簡介：
技術參數(shù)：
主要特點：
X-3000能量色散X射線熒光光譜儀，采用低功率小型X光管為激發(fā)源、電制冷
硅半導體探測器為探測單元，是公司為生產制造企業(yè)應對WEEE指令和 ROHS指令
，新近推出的X射線熒光光譜儀。同時我公司專門研發(fā)針對歐盟指令的應用軟件
，對鉛、鎘等有害金屬進行ppm級的分析。
技術參數(shù)：
1 激發(fā)源：本機采用低功率 X 射線管（Mo靶），電壓可達50KV，電流1mA
2．高壓電源：50W，50KV，1mA
3．探測器：電制冷 Si PIN半導體探測器（對MnKa線，分辨率優(yōu)于230Kev）
4．多道分析器：2048道
5．軟件：基于WINDOWS的強大工作軟件。定量分析包括：經驗系數(shù)法， 理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。 定性分析包括： KL線標記， 譜圖比較和光標尋峰等 。 客戶可進行二次開發(fā) ，自行開發(fā)任意多個分析方法。
6．電源：交流220V 50Hz
7．體積：520mm x 600mm x 270mm
8．重量：約 42kg (主機)
主要特點：
● 制樣簡單,樣品經過簡單的制樣,甚至無需制樣即可直接測量.
● 所有元素可以同時測量,并且短短幾分鐘即可完成分析,因此可以應付大批量
待測樣品.
● 檢出限低,完全可以滿足WEEE和ROHS指令.
● 無損分析.
● 沒有人為誤差,在分析程序設立后,誰操作都得到一樣的結果.
● 操作簡單,可以單鍵完成操作.