產品品牌：

CAMECA 高分辨二次離子質譜儀（CAMECA NanoS

產品型號：

CAMECA 高分辨二次離子質譜儀（CAMECA NanoSIMS 50L）

NanoSIMS 50L
專門針對同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針。

在CAMECA 各系列的二次離子質譜（SIMS）中，NanoSIMS 50L 因擁有很高的橫向分辨率而與眾不同。儀器設計獨特：離子源與二次離子提取腔體采用光學共軸設計；而磁質譜部分也從一開始就采用多接受模式。
 
獨特的性能
NanoSIMS 50L 同時給出如下各項關鍵性能，而現有的其他儀器或技術只能實現其中的個別性能。
- 高空間分辨率 （小到50 nm）
- 高靈敏度 （元素分布圖像ppm）
- 高質量分辨率（M/dM）
- 并行接受7個質量
- 快速數據接收（DC mode, 非脈沖模式）,
- 可分析絕緣樣品Analysis of electrically insulating samples without problem.
- 同位素分析可達千分之零點幾。
 
應用領域
微生物學：
The NanoSIMS 50L 開啟了一條新路徑，能夠將系統進化識別（phylogenetic identity，with FISH or El-FISH）與單細胞的新陳代謝功能結合起來（using stable isotope labeling) 以便研究環境對微生物群體的影響。
N. Musat, MPI Bremen, Germany.
 
細胞生物學：
因具有的50nm分辨率以及能夠測同位素比的能力，NanoSIMS 50L 能夠針對單個細胞，對那些做了同位素標識的分子在這個個細胞內部聚集和流動情況進行測量。
C. Lechene and D.P. Corey, Harvard Medical School & Brigham Women's Hospital, USA.
 
地質和空間科學：
NanoSIMS 50L可以深入亞微米（sub-micron）區域，針對對來自于行星間的塵埃粒子、隕石以及礦物截面內部的小粒子或夾雜，測定元素和同位素。在使用多個法拉第杯以及幾個微米大小束斑的配置下，所給出的同位素比的以及外部重復性均小到千分之零點幾。
J. Moreau et al., SCIENCE.
 
材料研究：
歸功于高質量分辨率下的高靈敏度（沒有質量干擾），NanoSIMS 50L 能夠以50nm的橫向分辨率對痕量元素（摻雜）做元素分布圖和定量測量，包括電絕緣材料。
H. Haneda, NIMS, Japan.