- 產(chǎn)品品牌：
- -ATPS擴(kuò)聲系統(tǒng)測(cè)試
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)
- 類型：
- 0
圖中所示，芯片與芯片緊密聯(lián)系著，IC與IC之間有大量的引腳關(guān)聯(lián)，通過(guò)JTAG接口4條線，在軟件的控制下，就可以將IC的每個(gè)引腳的狀態(tài)讀取出來(lái)。TDI 為數(shù)據(jù)輸入端，TMS為模式控制端，TCK為時(shí)鐘控制端，TDO為數(shù)據(jù)輸出端。當(dāng)芯片工作于邊界掃描模式下，芯片就像是一個(gè)可編程的芯片，每個(gè)引腳都可控制，讀寫。邊界掃描測(cè)試軟件發(fā)出的掃描數(shù)據(jù)通過(guò)端口TDI進(jìn)入IC,結(jié)合模式控制端口TMS和時(shí)鐘控制端口 TCK,一個(gè)掃描周期里，數(shù)據(jù)輸出端口就獲取一段邊界掃描測(cè)試掃描數(shù)據(jù)，邊界掃描測(cè)試通過(guò)分析比較輸入輸出數(shù)據(jù)等運(yùn)算，就可以判斷IC引腳的狀態(tài)，不同模式，邊界掃描測(cè)試有不同的數(shù)據(jù)輸出，運(yùn)用不同的模式掃描，從而確定IC功能是否完好，焊接是否良好，是否有開短路。
