產(chǎn)品品牌：

NANOVEA

產(chǎn)品型號(hào)：

Mechanicai testers

美國(guó)NANOVEA公司是一家公認(rèn)的原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的領(lǐng)航者，生產(chǎn)的微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是目前國(guó)際上用在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域先進(jìn)的設(shè)備。 原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)涵蓋了納米壓痕儀、納米劃痕儀、納米摩擦磨損測(cè)試儀和SPM功能可以對(duì)樣品表面微區(qū)進(jìn)行納米壓痕（施加正向垂直載荷力）、 劃痕（施加側(cè)向載荷力）、原位成像壓痕或劃痕后的表面形貌。納米測(cè)試系統(tǒng)主要應(yīng)用于硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、結(jié)合強(qiáng)度、臨界載荷、斷裂剛度、失效、分層、疲勞、蠕變、粘變力（結(jié)合力）、三維表面輪廓等測(cè)試. 該儀器可廣泛的應(yīng)用于材料、薄膜、航空航天、汽車(chē)工業(yè)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、MEMS、高分子、薄膜和涂層，以及太陽(yáng)能/燃料電池化工、石油、巖石、微電子、微型傳感器、半導(dǎo)體材料、自動(dòng)控制、航空航天、汽車(chē)工業(yè)及機(jī)械工具的材料研究和開(kāi)發(fā)，還可以應(yīng)用于工業(yè)產(chǎn)品的失效與可靠性的評(píng)價(jià)、質(zhì)量控制及檢驗(yàn)；也可以按所有的ASTM 和多種ISO 的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)也可以向各類不同領(lǐng)域中的用戶提供檢測(cè)服務(wù)。 技術(shù)參數(shù)                                                                      

參數(shù)	NANO系列
載荷范圍	400mN(800mN,1600mN可選)
載荷分辨率（理論）	0.03μN(yùn)
載荷分辨率(噪聲條件)	1.5μN(yùn)
深度范圍	250μm
深度分辨率（理論）	0.003nm
深度分辨率（噪聲條件）	0.15nm
熱飄逸	<0.05nm/s
摩擦力	400mN
Sinus 模式分析(DMA)	20HZ
劃痕長(zhǎng)度W/Visual inspection	25mm/90mm
劃痕長(zhǎng)度W/OVisual inspection	25mm/ 150mm
劃痕速度	0-240mm/min