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HP8594E HP8594E HP8594E低售，高購 劉s
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深圳科創(chuàng)電子儀器有限公司
頻率范圍：30kHz～3或6GHz*帶有固態(tài)轉(zhuǎn)換的集成化S參數(shù)測試裝置*達(dá)110dB的動態(tài)范圍*快的測量速度和數(shù)據(jù)傳遞速率*大屏幕LCD顯示器加上供外部監(jiān)視器用的VGA輸出*同時(shí)顯示所有4個(gè)S參數(shù)*將儀器狀態(tài)和數(shù)據(jù)存儲/調(diào)用到內(nèi)置軟盤驅(qū)動器*可選用的時(shí)域測量和掃描諧波測量HP 8753D射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀為滿足研制實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)制造的測試需求，在速度、性能和方便使用上提供了無與倫比的結(jié)合。8753D以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達(dá)110dB的動態(tài)范圍以及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網(wǎng)絡(luò)、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數(shù)據(jù)傳遞速率比以往的型號快達(dá)7倍之多。 網(wǎng)絡(luò)分析儀的特點(diǎn)是有2個(gè)獨(dú)立的測量通道，可同時(shí)測量和顯示所有4個(gè)S參數(shù)。可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標(biāo)、駐波比或時(shí)域格式來顯示反射和傳輸參數(shù)的任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個(gè)測量功能。可以利用達(dá)4個(gè)刻度格子在高分辯率的LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結(jié)果。為了驅(qū)動更大的外部監(jiān)視器，以便于觀察，增加了與VGA兼容的輸出。較好的通用性和性能 一個(gè)集成化的合成源提供了達(dá)10mW的輸出功率（用選件011可達(dá)100mW），1Hz的頻率分辯率和線性頻率，對數(shù)頻率，列表頻率，CW和功率掃描功能。三個(gè)調(diào)諧接收機(jī)可以在6GHz（帶有選件006頻率擴(kuò)展）處105dB或3GHz（標(biāo)準(zhǔn)）110dB的寬動態(tài)范圍內(nèi)進(jìn)行獨(dú)立的功率測量或同時(shí)比值測量。集成化的測試裝置可以在不使用倍頻器的情況下，測量達(dá)6GHz裝置的傳輸和反射特性。為了在非同軸系統(tǒng)中進(jìn)行方便而的測量，特提供了TRL＊/LRM＊1校準(zhǔn)。利用內(nèi)置適配器移去校準(zhǔn)技術(shù)，還能實(shí)現(xiàn)對非插入式器件的高測量。高穩(wěn)定度的頻率基準(zhǔn)（選件1D5）提高了對高Q器件，如表面聲波（SAW）器件、晶體諧振器或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量。為了提高配置的靈活性，選件011取消了內(nèi)置測試裝置，以便能選擇自己所需的測試裝置。HP 8753D選件011可與HP85046A/B和85047A S參數(shù)測試裝置以及供其它特殊應(yīng)用的專用測試裝置配套使用。用于自動生產(chǎn)的新型選件可以刪除內(nèi)部顯示和降低儀器成本（選件1DT）。生產(chǎn)效率的提高 測試時(shí)序功能允許鍵入來迅速、反復(fù)執(zhí)行復(fù)雜的任務(wù)。在時(shí)序工 作方式下，只需從面板測量，分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程。還可以利用測試時(shí)序經(jīng)并行或HP-IB端口對外部裝置進(jìn)行控制。另一些生產(chǎn)率特點(diǎn)包括支持LIF和DOS格式的內(nèi)置軟盤驅(qū)動器、非易失存儲器、串行和并行接口，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時(shí)間記錄的實(shí)時(shí)時(shí)鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和標(biāo)記跟蹤功能。通過利用列表掃描工作方式來選擇待測試的特殊頻率以及在每個(gè)頻率范圍設(shè)置獨(dú)立的中頻帶寬和功率電平，可以縮短測量時(shí)間。分段校準(zhǔn)和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量。非線性裝置的測試 為了對器件進(jìn)行更先進(jìn)的表征，選件002增加了諧波測量功能。可以直接或以相對于基波的數(shù)顯示放大器的掃描二次和總諧波電平。按動一個(gè)按鈕，即可測量達(dá)－40的諧波。功率計(jì)校準(zhǔn)向?qū)斎牖蜉敵鲭娖矫舾械钠骷峁┓€(wěn)幅的功率
