| 光譜分析儀主要用于對密集型波分復用(DWDM)系統中的光器件如合波器、分波器、光放等器件的光參數進行測量和分析，能夠顯示各波圖形并具有自動校準功能。主要測量和分析的光參數有： 波長參數：中心波長、平均波長、－20dB帶寬、截止帶寬等參數。功率參數：峰值功率、總功率、信噪比，邊模擬制比、增益平坦度等參數。 1. 波長指標 (1) 波長范圍 1250～1650nm (2) 無外部校準光源條件下 ≤±0.03nm 用戶校準模式下 ≤±0.015nm (3) 波長線性度（在C和L段全范圍）≤±0.01nm (4) 分辨率帶寬(FWHM帶寬) 小分辨率帶寬小于0.033nm (5) 調整重復性 ±0.003nm 2. 光功率指標 (1) 線性度 ≤±0.1dB (2) 平坦度(1530～1570nm) ≤±0.1dB (3) 偏振相關性(1550nm) ≤±0.15dB (4) 靈敏度(1550nm) ≤-75dBm (5) 光抑制比（ORR） 0.1nm ≥35 dB 0.2nm ≥48 dB 0.4nm ≥50dB (6) 輸入功率： +20dBm 3. 信噪比測試 (連續波) ≤±0.6dB 測試范圍(0.1nm帶寬) ≥35 dB 4．光譜儀主要測試功能： 光譜儀應具有如下測試模式： 1） WDM測試模式：能夠顯示如下指標：中心頻率、20dB 帶寬，通道信號功率、總功率、信號功率平坦度、信噪比 2） EDFA測試模式：能夠顯示如下指標：噪聲指數、信號增益、增益平坦度、輸入信號平坦度、輸出信號平坦度 3） 激光器測試模式：能夠顯示諸如DFB激光器相關指標：包括峰值功率、中心波長、邊模抑制比，xx dB帶寬等；以及FP激光器相關指標 4）譜損測試模式：能夠測試諸如DWDM合波器、分波器等無源器件指標：濾波器峰值波長、插損、插損平坦度、濾波器3dB和20dB帶寬 5）漂移測試模式：用于測試WDM系統長時間中心頻率、通道功率、信噪比的變化 6）曲線比較模式：該模式可以將不同時間測試的曲線結果進行比較，可用于測試WDM系統維護中系統老化的分析。內容包括中心頻率變化、通道功率變化。 應答：滿足 7) 超級波分測試功能：儀表應能夠具有對預啁啾DWDM信號測試功能。 5．掃描時間： 掃描周期(全范圍數據分析) ≤1.5s |
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