| 品牌：美國麥克儀器 型號：SediGraph III 5120 |
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| 詳細說明: |
| 產品簡介新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術與的檢測儀器功能相結合，提供卓越的重復性、準確性和重現性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質量，利用國際標準的沉降法測量粒度，無需建模。該產品的技術已成為造紙、陶瓷、磨料等數個行業的金色標準。技術特點· 檢測范圍：0.1 到300 μm· 全顆粒度測試，無需建模· 選配的MasterTech 052自動進樣器提供多至18個樣品的自動進樣，無需人為介入 產品應用適合于各種無機材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物，例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析，是高嶺土，重鈣，輕鈣粒徑的標準分析儀器。 |
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