JX-2000顆粒圖像分析儀
　　JX-2000型顆粒圖像分析儀，能準(zhǔn)確直觀顆粒形貌，并進行顆粒數(shù)據(jù)處理，適用于控制分析產(chǎn)品質(zhì)量。該系統(tǒng)由光學(xué)顯微鏡、U攝像機、圖像分析軟件、電腦、打印機等部分組成。
　　一、應(yīng)用范圍
　　適用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質(zhì)合金、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。
　　
　　二、性能特點
　　1、工業(yè)級攝像頭采集，光學(xué)顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，軟件進行顆粒數(shù)據(jù)處理。
　　2、測量范圍：0.5μm～3000μm
　　3、全平場消色差物鏡，分辨率0.07微米，光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，打印倍數(shù)4000倍（A4幅面）
　　4、提供等面積和等周長兩種基準(zhǔn)下的個數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有（30）多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
　　5、對采集的圖像進行調(diào)整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等，分析分辨率，網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能，使測試結(jié)果更真實。
　　6、儀器分二種型號，技術(shù)原理、參數(shù)都相同，JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置顯微鏡，JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。
　　7、顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測試。另可根據(jù)行業(yè)要求，設(shè)計磨料、硅灰石等軟件。
　　
　　三、圖像分析處理功能
　　1、色調(diào)處理：負(fù)像、灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對比度調(diào)整；
　　2、圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針）、90度（順時針）、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小任意比例縮放等；
　　3、測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選；
　　4、圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
　　5、圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標(biāo)擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設(shè)置標(biāo)尺、網(wǎng)格等功能；
　　6、分析參數(shù)：
　　（1）幾何參數(shù)：每個顆粒的質(zhì)心 X、Y 坐標(biāo)位置，像素；
　?。?）當(dāng)量幾何參數(shù)：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
　　（3）外接幾何參數(shù)：每個顆粒的外接圓直徑；
　?。?）光密度參數(shù)：圖像 R、G、B、灰度分布；
　?。?）形態(tài)學(xué)參數(shù)：長徑比，圓度系數(shù)；