Windows Mobile5.0操作系統(tǒng)
開機(jī)后不需校準(zhǔn)就可直接測量
采用布魯克技術(shù)的XFlash?SDD檢測器
分析元素小從Mg開始,達(dá)40多種。
分析范圍:ppm級(jí)至50%以上(與礦樣種類有關(guān))
實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量,不受樣品形狀限制
儀器自動(dòng)校準(zhǔn),自動(dòng)存儲(chǔ)測量數(shù)據(jù),無需人工干預(yù)
主機(jī)一體化設(shè)計(jì),度密封,水、塵,沖擊
可選擇一鍵式定時(shí)測量
內(nèi)置Bruker操作軟件,計(jì)算和顯示速度快
儀器適應(yīng)高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機(jī)狀態(tài)下長時(shí)間不測量時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)入待機(jī)狀態(tài),以節(jié)省電源和保護(hù)儀器
X射線管耐用,采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng),可定位礦置并繪制礦脈分布圖
FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現(xiàn)場工作時(shí)間。自動(dòng)補(bǔ)償元素間干擾。
軟件升級(jí)







