20N推力試驗探針HT-I20
1N推力試驗探針HT-I21
一、產(chǎn)品概述：
本套探針分別合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。
二、技術(shù)參數(shù)
20N推力試驗探針HT-I20：探針部分3＋0.03 0×1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力；
1N推力試驗探針HT-I21：探針部分Φ1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力
三、使用方法
將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當(dāng)探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。
1N推力試驗探針HT-I21
一、產(chǎn)品概述：
本套探針分別合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求，20N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件是否被觸及，1N推力探針主要用于檢驗保護門內(nèi)的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。
二、技術(shù)參數(shù)
20N推力試驗探針HT-I20：探針部分3＋0.03 0×1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.2±0.05，20N推力；
1N推力試驗探針HT-I21：探針部分Φ1＋0.015 0×80±0.5，端部倒圓R0.05，1N推力
三、使用方法
將探針端部接觸試樣，然后施力20N（1N），當(dāng)探針凸出端A-A面與B-B面平齊即可。
