可更加精確的量測微小相位差(0.1nm~)。
適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。
檢測器採用多頻譜分光光譜儀,展現(xiàn)任一個波長的高相位差量測。
可選配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺,評估三次元折射率參數(shù)解析等視野角特性。
配合量測樣品,自由架構(gòu)量測平臺。
液晶層間隙檢查機(jī) RETS series雙折射相位差光譜分析儀系統(tǒng) MCPD series低相位差檢查機(jī) RE-100







