400波長以上的多頻分光法,量測出橢圓偏光光譜。
自由變換反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析數據。
反射角度自動可變的測量方式,對薄膜測量有更高的分析。
搭載有薄膜解析所需的全角度同時測量功能。
測量晶圓與金屬表面的光學常數(n:屈折率,k:衰減係數)。
橢圓偏光儀 FE-5000反射式膜厚量測儀 FE-3000
膜厚光譜分析儀系統 MCPD series
膜厚分析儀FE-300
咨詢電話SERVICE LINE
86 0755 82047754-803
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劉飛峰
免企業未認證證營業執照未上傳
經營模式:工廠
主營產品:LED光學檢測儀器;LCD檢測設備;膜厚測量儀;光檢測積分半球;光檢測積分球;平面顯示器檢測設備;LED在線檢測設備;高性能光纖光譜儀
自由變換反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析數據。
反射角度自動可變的測量方式,對薄膜測量有更高的分析。
搭載有薄膜解析所需的全角度同時測量功能。
測量晶圓與金屬表面的光學常數(n:屈折率,k:衰減係數)。