主要特點(diǎn)
頻 率 范 圍 : 1 - 200MHz
完整晶體測試方案
DLD 測量下限低至1nW
符合 IEC60444-11 精準(zhǔn)FL 測量
內(nèi)置存儲 8 通道校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
可配 8 通道分路器
頻率微調(diào)系統(tǒng)
溫度測試系統(tǒng)
支持單計(jì)算機(jī)配多臺測試儀
尺寸: 長 212 x 寬 158 x 高 51 mm
主要應(yīng)用
臺式QC晶體參數(shù)測試
寬帶阻抗掃描
高速USB通訊連接方式
支援多種操作系統(tǒng)
自動分選系統(tǒng)
簡易編程, 不需軟件數(shù)據(jù)庫。










