采用 IEC60444-5 及 IEC60444-6 國際標準為晶體的測量方法。 
? FL 測試提供 “直接阻抗法” 和 “實際負載電容法”。 
? 自動掃描、檢測不明規格晶體的頻率。 
? 快速激勵電平依賴性(DLD)測試及圖形掃描功能。
 ? 高速、先進的自動寄生掃描(Spurious Scan)測試及圖形掃描，直觀、便捷分析晶體的諧振特性。
 ? 提供批量生產模式及工程分析模式，以配合批量生產或工程分析之所需要。
 ? 標準外延式測試頭，使用方便。提供 SMD 測試頭（選項）；提供表晶(KHz 范圍)專用測試頭（選項）(表晶測試 頭需配合 KH1820 使用)。 
? 快速良品/不良品 (Pass/Fail)分選，可設置 5 個分選檔。分選參數及分檔范圍可由用戶分別定義。屏幕上直觀顯 示測量數據及分檔結果。 
? 提供 Excel 格式數據存儲，可簡便進行數據提取及分析。
 ? 高擴展性(選項)；提供硬件擴展模式及軟件擴展模式。用戶可簡便自行開發高速全自動測量沒備。 
? 軟件內置多語言選擇：簡體中文、繁體中文、英文及日文可即時切換。 
? 提供外接時基 (external time base) 接口。 
? 頻率范圍： KH1800 : 1-120MHz 
 KH1820 : 10KHz - 400 KHz 及 500KHz - 240MHz 
 ? 激勵電平: 1nW - 1mW 于 25 Ohm。
 ? 測量參數：超過 46 個, Fr, Fs, FL, Rr, Rs, RL, CL, C0, C1, L1, Q, Ts, C0/C1, DF1, DF2, FL1, FL2, DLD-F, DLDR, DLD-γ (γ gamma 為 IEC60444-6 標準參數), spurious scan (寄生) 等等。
 ? 重復性 : Fs ≤± 時基誤差 ±1 ppm

                       FL ≤± 時基誤差 ±1 ppm ± 0.2pF × Ts (晶體的頻率牽引量)

                       Rs ≤± 8% ± 1Ω 
? 時基誤差 : 出廠校準                        ≤ 1 ppm

                           首年年老化率                ≤ 2 ppm

                           第二年老化率及之后 ≤ 1 ppm 
 ? 校準方法 : 標準網絡分析儀校準模式 (開路、短路及負載)，隨系統提供 50 Ohm 標準電阻
 需要用戶提供 PC 電腦及 Windows XP/Windows 7/ Win10 (32/64 Bits) 操作系統。為優化性能, 建議配置 Intel Core 2 Duo E4500 2.2GHz (或更高階)，1GB 內存，USB 埠 1 個，PCI 槽 1 個(配長卡及需含 3.3V 和 5V 電源)。